三维轮廓仪可以测量任何类型的纳米分辨率样品

　　三维轮廓仪可在同一测试平台上运行多项测试，并可根据不同的技术应用需求改变产品组合。可对样品的同一区域进行不同模式的实验检测，模式切换可全自动进行。多种技术的融合，可以使不同的技术在同一台测试仪上发挥各自的优势。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析，还可以降低维护成本，提高效率。

　　三维轮廓仪可以在同一个测试平台上运行多个测试，单击按钮可以更改成像模式。这种组合可以轻松对任何表面成像，如透明、平面、暗色、平面、曲面等。每种成像方式各有优势，各种技术相得益彰。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析，还可以降低维护成本，提高效率。

 

　　1、一体化操作的测量分析软件，无需切换界面。配置参数是在测量前预先设置好的。软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，可快速实现批量测量功能。

　　2、测量中提供自动多区域测量功能、批量测量、自动对焦、自动​​亮度调节等自动功能。

　　3、测量中提供熔接测量功能。

　　4、在分析中，我们提供了调整位置、校正、过滤和提取四个模块的数据处理功能。调整位置包括图像整平、镜像等功能。校正包括空间滤波、修整、峰值去噪等功能；过滤包括去形、标准过滤、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和截面的功能。

　　5、分析提供五种分析功能：粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析和功能分析。粗糙度分析包含符合国际标准的线粗糙度、表面粗糙度、平面度等全参数分析功能；几何轮廓分析包括台阶高度、距离、角度、曲率等特征的测量，以及直线度、圆度和形位公差的评价；结构分析包括孔体积、槽深等；频率分析包括纹理方向和频谱分析；函数分析包括SK参数和体积参数。

　　6、分析中提供一键分析、多文件分析等辅助分析功能。分析模板已设置。结合测量中提供的自动测量和批量测量功能，可以实现小型精密设备的批量测量和直接获取分析数据的功能。

　　在同一平台上使用多种光学技术，三维轮廓仪几乎可以测量任何类型的纳米分辨率样品。表面轮廓仪配备功能强大的分析软件，符合多种标准。双模3D表面轮廓仪可在同一测试平台上运行多项测试，并可根据不同的技术应用需求改变产品组合。可对样品的同一区域进行不同模式的实验检测，并可自动进行模式切换。多种技术的融合，可以使不同的技术在同一台测试仪上发挥各自的优势。这种集成技术不仅有利于数据的综合分析，还可以降低维护成本，提高效率。